Disciplina Obrigatória >>
MIC05  Teste de Circuitos Integrados
Objetivos: Esta disciplina apresenta técnicas de medida e teste de dispositivos e circuitos visando a detecção e o diagnóstico de falhas. Essas técnicas podem ser aplicadas tanto na fase de fabricação do circuito, quanto na fase de utilização para montagem de sistemas eletrônicos e, posteriormente, para a manutenção preventiva e/ou corretiva. São ainda abordados o projeto visando o teste e a tolerância a falhas. Considerando que os circuitos integrados atuais são "Sistemas em Chip", os aspectos peculiares do teste analógico e misto do teste de microssistemas são apresentados.

Créditos: 2
  • Súmula
    1. Técnicas de teste: técnicas de teste digital, analógico, e misto analógico-digital para sub-circuitos e sistemas completos: defeitos, modelos de falhas, tipos de teste.
    2. Análise de testabilidade: controlabilidade e observabilidade. Simulação de falhas.
    3. Geração de teste: geração exaustiva, pseudo-aleatória, determinística e mista.
    4. Equipamentos de teste.
    5. Diagnóstico.
    6. Teste de blocos digitais específicos: ROMs, RAMs, ULAs, FPGAs, registradores, interconexões.
    7. Projeto visando o teste: projeto testanto a testabilidade, auto-teste integrado, circuitos self-checking.
    8. O padrão boundary-scan. Geradores pseudo-aleatórios, analisadores de assinatura.
    9. Teste de corrente, teste térmico. Códigos detectores e corretores de erro. Tolerância a falhas baseada em redundância. Técnicas avançadas de projeto visando o teste: re-uso de técnicas digitais para o teste analógico e misto, teste de sistemas integrados, teste de microssistemas.
  • Bibliografia
    • M ABRAMOVICI, M BREUER, A FRIEDMAN, Digital Systems Testing and Testable Design. IEEE Press, 1990.
    • H FUJIWARA, Logic Testing and Design for Testability. The MIT Press, 1985.
    • REIS, Ricardo (Editor), Concepção de Circuitos Integrados. Editora Sagra Luzzato, 2000.
    • Coletânea de artigos de anais e conferências: Internacional Test Conference, VLSI Test Symposium, Design Automation Conference, Design Automation and Test in Europe Conference, Latin American Test Symposium, Asian Test Symposium, etc.
    • Coletânea de artigos de revistas científicas: KAP Journal of Eletronic Testing: Theory and Applications, IEEE Design and Test of Computers, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurements, IEEE Transactions on Computers, IEEE Transactions on VL