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MIC58  Teste e Confiabilidade de Sistemas de Hardware
Objetivos: Apresentar conceitos avançados de teste e confiabilidade de sistemas digitais. Introduzir técnicas de projeto de hardware visando o teste. Preparar o aluno para a prática profissional do teste, do projeto visando o teste e do projeto visando a confiabilidade de sistemas digitais.

Créditos: 3
  • Súmula
    1. Revisão de conceitos básicos de teste.
    2. Teste funcional e teste de hardware.
    3. Autoteste integrado.
    4. Teste de dispositivos específicos: FPGAs e memórias.
    5. Aspectos de tolerância a falhas em sistemas complexos de hardware: nível lógico e elétrico.
    6. Medidas de confiabilidade.
    7. Circuitos Self-cheking.
    8. Códigos de detecção e correção de erros.
    9. Tolerância a falhas em circuitos analógicos e mistos.
  • Bibliografia
    • Bushnell, M. and Agrawal, V. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits. Kluwer Academic Publishers, 2001. (livro texto)
    • Abramovici, M.; Breuer, M.; Friedman, A. Digital Systems Testing and Testable Design. IEEE Press, 1990.
    • Fujiwara, H. Logic Testing and Design for Testability. The MIT Press, .
    • Lala, P. Digital Circuit Testing and Testability. Academic Press, 1997.
    • Stroud, C. A Designer´s Guide to Built-in Self-Test. Kluwer Academic.
    • Artigos selecionados de conferências e revistas acessíveis via site de periódicos da CAPES (www.periodicos.capes.gov.br/rictec), na biblioteca do Instituto de Informática.
    • Martin L. Shooman , Reliability of Computer Systems and Networks: Fault Tolerance, Analysis, and Design, Published by John Wiley, New York, 2002.
    • Daniel P. Siewiorek, Robert S. Swarz Reliable Computer Systems: Design and Evaluation, Published by A K Peters, MA, 1998.