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Palestra Variabilidade em Dispositivos Multigate com Profa. Cristina Meinhardt


Detalhes do Evento


Variabilidade em Dispositivos Multigate

Abstract:
Circuitos integrados VLSI (Very Large Scale Integration) usando nanotecnologia demandam novos materiais, estruturas, metodologias de projeto e ferramentas de CAD para lidar com os problemas decorrentes do processo de fabricação, tais como variabilidade.
Alguns tipos de concepção são mais ou menos robustos às variações de processo ou ambientais, quer sistemáticas ou aleatórias. Esta apresentação avalia o comportamento da tecnologia FinFET em tecnologias além de 20nm. A tecnologia FinFet é candidata a substituir a tecnologia CMOS planar no processo de fabricação. Obter informações preditivas sobre o comportamento desta tecnologia no projeto de células é importante tanto para projetistas como para desenvolvedores de ferramentas de EDA.

Short CV:
Possui graduação em Engenharia de Computação pela Universidade Federal do Rio Grande (2003), mestrado e doutorado em Computação pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (2006 / 2014). Atualmente é professora adjunta da Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC). Seus principais temas de pesquisa são: projeto digital e low-power, desafios em tecnologias nanométricas e ferramentas de EDA.