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Seminários Micro e Nanoeletrônica: Analyzing the Reliability of Neural Networks in Programmable SoC Devices


Detalhes do Evento

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Abstract: A set of neural networks architectures embedded in programmable logic devices has been analyzed under radiation induced errors. The objective is to show and discuss some implementations and reliability techniques for neural networks in FPGAS.

Com a Profa. Fernanda Lima Kastensmidt, UFRGS.

Short CV: Fernanda Lima Kastensmidt possui graduação em Engenharia Elétrica pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (1997), mestrado em Ciências da Computação pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (1999) e doutorado em Ciências da Computação pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (2003). Atualmente é professor Associado da Universidade Federal do Rio Grande do Sul e Coordenador do Programa de Pós-Graduação em Microeletrônica (PGMICRO). Tem experiência na área de Microeletrônica e Engenharia da Computação, com ênfase em Hardware, atuando principalmente nos seguintes temas: técnicas de proteção a falhas de radiação, projeto de sistemas tolerante a falhas, arquitetura programável, FPGA, qualificação de sistemas e circuitos integrados sob falhas e modelagem de falhas. É autora do livro Fault Tolerance Techniques for SRAMbased FPGAs publicado em 2006 pela editora Springer e co-autora de mais 3 livros cientificos. Participou do projeto da carga útil do satélite NanoSat-BR1 que foi lançado em Junho de 2014 e atualmente está no projeto do NanoSat-BR2 onde parte da carga útil é responsavel por analisar os efeitos da SAA em Circuitos Integrados fabricados em tecnologia nanométrica.