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Grupos de Pesquisa | Teste e Projeto Visando o Teste de Sistemas de Hardware

Os trabalhos deste grupo visam o projeto de sistemas integrados facilmente testáveis, confiáveis e de custo acessível. Aspectos do teste fora e em funcionamento de sistemas integrados complexos são considerados. Sistemas alvo incluem circuitos digitais e analógicos, dispositivos programáveis (FPGAs e FPAAs), sistemas integrados em um único chip e redes intra-chip e sistemas embarcados compostos de hardware e software.

Pesquisadores Membros do Grupo

Temas de Pesquisa

  • Ferramentas para análise e injeção de falhas em circuitos integrados: automatização do processo de injeção de falhas para análise de confiabilidade de circuitos integrados.
  • Modelagem de falhas transientes em circuitos integrados: definição e validação de modelos de falhas realísticos para sistemas nanométricos
  • Proteção de hardware criptográfico contra ataques: definição, implementação e avaliação de métodos de proteção por hardware contra ataques maliciosos em circuitos de criptografia (smartcards, etc.)
  • Teste de sistemas integrados baseado em reuso de hardware: ferramentas para planejamento de teste para sistemas integrados (baseados em componentes de hardware) visando o teste de baixo custo
  • Teste de redes intra-chip: definição de modelos de falhas, desenvolvimento e implementação de técnicas de teste para redes intra-chip
  • Sistemas integrados self-checking e tolerantes a falhas: projeto visando a confiabilidade, segurança e tolerância a falhas de circuitos e sistemas integrados, incluindo sistemas de automação. Planejamento de estratégias de teste e monitoramento para manutenção preditiva e inteligente
  • Teste de sistemas integrados analógicos, de sinal misto e microssistemas: desenvolvimento de métodos para planejamento de teste e arquiteturas visando o teste para circuitos analógicos e mistos (analógicodigital, micro-eletro-mecânico, etc.)
  • Confiabilidade de sistemas baseados em dispositivos programáveis: análise de confiabilidade de dispositivos programáveis analógicos e digitais tendo em vista os novos modelos de falhas existentes nas tecnologias nanométricas. Definição de técnicas de proteção e tolerância a falhas para estes dispositivos.

Projetos de Pesquisa Recentes na Área

  • HardTeste – Projeto Visando o Teste e a Tolerância a Falhas de Sistemas de Hardware: definição de soluções para o projeto visando o teste fora e em funcionamento e a tolerância à falhas de sistemas integrados heterogêneos (digital, analógico e misto). (2004-2007). UFRGS. Financiamento: CNPq.
  • Centro de Referência em Manutenção Inteligente: monitoramento durante o funcionamento aplicado em manutenção preditiva e inteligente. Início em 2006. UFRGS e SENAI Nacional. Financiamento: SENAI.
  • SEEP – Sistemas Eletrônicos Embarcados baseados em Plataformas: teste de plataformas de hardware para sistemas embarcados através do reuso de componentes (processadores, rede intra-chip). (2003- 2007). UFRGS. Financiamento: CNPq.
  • SOC-MICRO: teste de circuitos analógicos programáveis. (2003-2007). Financiamento: CNPq.
  • CAPES-COFECUB – Utilização de Redes Intra-Chip em SoCs: Projeto, Reconfiguração e Teste: teste de sistemas integrados baseados em redes intra-chip. (2006-2007). Financiamento: CAPES e COFECUB (França).
  • NAMITEC – Tecnologia em Nanoeletrônica para Sistemas Integrados Inteligentes: Projeto Visando o Teste e a Tolerância a Falhas de Sistemas de Hardware: Teste de sistemas mistos, teste de sistemas integrados e teste baseado em redes intra-chip. Início em 2005. UFRGS. Financiamento: CNPq e MCT.

Resultados de Pesquisa Recentes

  • Teste e diagnóstico da placa de CPU de um controlador lógico programável – Altus S.A.
  • Projeto de uma matriz de roteamento tolerante a falhas – Siemens do Brasil
  • Projeto de um core autotestável do microcontrolador 8051 – CPqD