{"id":741,"date":"2015-12-30T09:56:06","date_gmt":"2015-12-30T11:56:06","guid":{"rendered":"http:\/\/www.inf.ufrgs.br\/profcomp_wp\/?page_id=741"},"modified":"2016-05-12T15:54:59","modified_gmt":"2016-05-12T18:54:59","slug":"cmp246","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/www.inf.ufrgs.br\/profcomp\/lista-de-disciplinas\/cmp246\/","title":{"rendered":"CMP246"},"content":{"rendered":"
\n

Teste e Confiabilidade de Sistemas de Hardware<\/strong><\/h3>\n

Respons\u00e1vel<\/b>: Fernanda Gusm\u00e3o de Lima Kastensmidt<\/a>
\nPr\u00e9-Requisitos<\/b>: –
\nCarga Hor\u00e1ria<\/b>: 60 hs
\nCr\u00e9ditos<\/b>: 4
\nSemestres Oferecidos<\/b>: Segundo semestre
\nMatr\u00edcula de Graduandos<\/b>: A matricula dever\u00e1 ser feita como Aluno Especial
\nP\u00e1gina da Disciplina<\/b>: –<\/p>\n

S\u00daMULA<\/strong><\/p>\n

Revis\u00e3o de conceitos b\u00e1sicos de teste. Teste funcional e teste de software. Autoteste integrado. Teste de dispositivos espec\u00edficos: FPGAs e mem\u00f3rias. Aspectos de toler\u00e2ncia a falhas em sistemas complexos de hardware: n\u00edvel l\u00f3gico e el\u00e9trico. Medidas de Confiabilidade. Circuitos Self-checking. C\u00f3digos de detec\u00e7\u00e3o e corre\u00e7\u00e3o de erros. Toler\u00e2ncia a falhas em circuitos anal\u00f3gicos e mistos.<\/p>\n

OBJETIVOS<\/strong><\/p>\n

Apresentar conceitos avan\u00e7ados de teste e confiabilidade de sistemas digitais. Introduzir t\u00e9cnicas de projeto de hardware visando o teste. Preparar o aluno para a pr\u00e1tica profissional do teste, do projeto visando o teste e do projeto visando a confiabilidade de sistemas digitais.<\/p>\n

PROGRAMA<\/strong><\/p>\n

1 Soft errors (SEU e SET) em circuitos digitais (circuitos combinacionais e sequenciais). Modelos de falhas, injecao de falhas. Defini\u00e7\u00e3o dos seminarios com os assuntos de disserta\u00e7\u00e3o
\n2 T\u00e9cnicas de toler\u00e2ncia a soft errors em circuitos digitais (ASIC). Defini\u00e7\u00e3o dos trabalhos da disciplina
\n3 Soft errors em circuitos anal\u00f3gicos (FPAA, sensores de corrente para detectar soft error) e tecnicas de prote\u00e7\u00e3o. Paper inje\u00e7\u00e3o de falhas
\n4 Total Ionizing Dose (TID), efeitos em Vth e corrente de leakage e experimentos. Paper propagacao de SET e analise
\n5 Teste em Mem\u00f3rias (falhas permanentes, transientes). Paper tec. Prote\u00e7\u00e3o em nivel logico
\n6 T\u00e9cnicas de toler\u00e2ncia a soft errors em mem\u00f3ria. Paper de TID
\n7 Teste de NoC (falhas permanentes e transientes). Paper tolerancia em memorias
\n8 T\u00e9cnicas de toler\u00e2ncia a soft errors em circuitos digitais (NoC). Paper teste de NoC
\n9 Soft errors em circuitos program\u00e1veis (FPGAs programados por SRAM, antifus\u00edvel e flash) e t\u00e9cnicas de Toler\u00e2ncia a soft errors em FPGAs programados por antifus\u00edvel e flash. Paper tolerancia a falhas em NoC
\n10 T\u00e9cnicas de toler\u00e2ncia a soft errors em FPGAs programados por SRAM. Paper qualificacao de FPGAs
\n11 T\u00e9cnicas de toler\u00e2ncia a soft errors em processadores embarcados ou n\u00e3o em FPGAs. Paper tolerancia FPGA
\n12 T\u00e9cnicas de toler\u00e2ncia a soft errors em processadores embarcados ou n\u00e3o em FPGAs. Paper tec. Processadores em ASIC
\n13 Tecnicas de prote\u00e7\u00e3o em Software. Paper tec. Processadores em FPGA
\n14 T\u00e9cnicas de tolerancia a falhas em Layout. Paper tec. Protecao em software
\n15 Apresenta\u00e7\u00e3o e entrega dos Trabalhos.<\/p>\n

CRIT\u00c9RIOS DE AVALIA\u00c7\u00c3O<\/strong><\/p>\n

Far\u00e3o parte da avalia\u00e7\u00e3o o trabalho final (TF), a apresenta\u00e7\u00e3o dos semin\u00e1rios (S) e as avalia\u00e7\u00f5es feitas dos seminarios (AvS). M\u00e9dia = (2xTF + S + AvS) \/ 4<\/p>\n

BIBLIOGRAFIA<\/strong><\/p>\n

\u2022 Bushnell, M. and Agrawal, V. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits. Kluwer Academic Publishers, 2001. (livro texto)
\n\u2022 Abramovici, M.; Breuer, M.; Friedman, A. Digital Systems Testing and Testable Design. IEEE Press, 1990
\n\u2022 Burns, M. and Roberts, G. An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement, Oxford University Press, 2001.
\n\u2022 Fujiwara, H. Logic Testing and Design for Testability. The MIT Press, 1985.
\n\u2022 Lala, P. Digital Circuit Testing and Testability. Academic Press, 1997.
\n\u2022 Stroud, C. A Designer\u00b4s Guide to Built-in Self-Test. Kluwer Academic Publishers, 2002.
\n\u2022 Artigos selecionados de confer\u00eancias e revistas acess\u00edveis via site de peri\u00f3dicos da CAPES (www.periodicos.capes.gov.br\/rictec), na biblioteca do Instituto de Inform\u00e1tica da UFRGS.<\/p>\n<\/div>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

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