Publicado em: 11/11/2024
TTTC’s Best Doctoral Thesis Award
Geancarlo Abich recebeu o TTTC’s E. J. McCluskey 2024 Best Doctoral Thesis Award
O E. J. McCluskey Best Doctoral Thesis Award é uma premiação de destaque oferecida pela TTTC (Technical Test Technology Council) para reconhecer e promover trabalhos de doutorado com alto impacto na área de tecnologia de testes. Essa premiação visa não só homenagear o autor da tese e seu orientador, mas também fortalecer a conexão entre academia e indústria, incentivando inovações que possam ser aplicadas na prática. Nomeado em homenagem a Edward J. McCluskey, um dos maiores educadores e pesquisadores em teste de circuitos e confiabilidade, o prêmio é disputado em duas fases: uma etapa semi-final regional e uma final global.
Para a edição de 2024, as semifinais ocorreram em quatro regiões: Ásia, Europa, América Latina e Estados Unidos, permitindo que doutorandos e recém-formados de todo o mundo apresentassem suas teses para um público composto de especialistas do setor. Cada tese é avaliada por seu impacto industrial, relevância do problema abordado e inovação metodológica.
Geancarlo Abich, doutor pelo PGMicro da UFRGS e orientado por Luciano Ost e Ricardo Reis, obteve destaque com sua tese intitulada “Early Soft Error Reliability Assessment of Convolutional Neural Networks Executing on Resource-constrained IoT Edge Devices”. O estudo aborda uma questão crítica para a confiabilidade de sistemas de IoT em dispositivos com recursos limitados. Em sua pesquisa, Geancarlo foca na avaliação precoce da confiabilidade contra erros transitórios (soft errors) em redes neurais convolucionais, que são amplamente usadas para análise de dados em tempo real. Esses erros, embora temporários, podem comprometer a integridade dos dados e o desempenho das redes neurais, especialmente em dispositivos de borda que não possuem capacidade de processamento para métodos tradicionais de correção.
Inicialmente, Geancarlo venceu a etapa latino-americana do concurso e, posteriormente, conquistou o prêmio na final global durante o IEEE International Test Symposium (ITC) de 2024, realizado em San Diego, Califórnia. A apresentação da tese ocorreu presencialmente perante um júri de especialistas, que reconheceu o potencial de impacto da pesquisa tanto para o desenvolvimento tecnológico quanto para o mercado. Este prêmio coloca em evidência a qualidade da formação oferecida pela UFRGS e reforça a contribuição da universidade brasileira no cenário global de pesquisa em microeletrônica e confiabilidade de sistemas.