Publicado em: 05/11/2012

Equipe do INF e PGMicro da UFRGS participa do IV WERICE 2012

Professores e alunos do Instituto de Informática e do Programa de Pós-Graduação em Microeletrônica da UFRGS participaram do IV WERICE AEROESPACIAL – Workshop Anual Sobre os Efeitos das Radiações Ionizantes em Componentes Eletrônicos e Fotônicos de Uso Aeroespacial – 2012, realizado em São José dos Campos, São Paulo, de 29 a 31 de outubro.  

Palestras apresentadas:
1- As linhas de pesquisa sobre efeitos da radiação ionizante em componentes eletrônicos na UFRGS e Cooperações Internacionais
Fernanda Lima Kastensmidt (UFRGS)
2- Neutron and Heavy Ion Tests
Paolo Rech – Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Brazil
3- Radiation Effects in FPGAs
Fernanda Lima Kastensmidt – Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Brazil
4- CAD tools for Radiation Hardened Circuits
Ricardo Reis – Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Brazil
5- TID effects and Modeling in Integrated CircuitsPap
Gilson Wirth – Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Brazil

Artigos apresentados:
Paper 1: Analysis of Total Ionizing Dose Effects on 0.13  m Technology Ring Oscillator and Voltage References
Thiago Both, Dalton Colombo, Gilson Inácio Wirth, UFRGS, Brazil
Paper 2: Total Ionizing Dose in a Mixed-Signal Flash-based FPGA
Lucas Tambara, Fernanda Kastensmidt, Tiago Balen, Marcelo Lubaszewski, Evaldo Carlos Fonseca Pereira Junior, Odair Gonçalez – UFRGS/IEAv, Brazil
Paper 3: Compiler Optimizations Do Impact the Reliability of the Control-Flow of Radiation Hardened Software
Rafael Parizi, Ronaldo Ferreira, Luigi Carro, Alvaro Moreira – UFRGS, Brazil
Paper 4: Simulation of TID effects in CMOS Operational Amplifiers: Investigating the inactivity windows origins
Guilherme Cardoso, Tiago Balen, Odair Gonçalez, Marcelo Lubaszewski – UFRGS/IEAv, Brazil
Paper 5: Soft-Error Probability Due to SET in Clock Tree Networks
Raul Chipana, Eduardo Chielle, Fernanda Kastensmidt, Jorge Tonfat Seclen, Ricardo Reis – UFRGS, Brazil
Paper 6: Using Configurable Temporal Filtering to Reduce Soft Error Rate
Jose Eduardo Souza, Fernanda Kastensmidt, Felipe Almeida, Eduardo Chielle, Thibault Dejoinville, Stanislas Breard – UFRGS, Brazil
Paper 7- A Configurable Test Bed Platform for Test and Validation of Payloads for Nanosatellites
William Guareschi, José Azambuja, Fernanda Kastensmidt, Ricardo Reis (UFRGS) and Otavio Durão, Nelson Schuch (INPE)
Paper 8- Evaluating Selective Redundancy in Data-flow Software-based Techniques
Eduardo Chielle, José R. Azambuja, Raul S. Barth, Felipe Almeida, Fernanda L. Kastensmidt, UFRGS
Paper 9- Qualification of Electronic Components with Respect to the Cosmic Radiation Tolerance for Space Applications
Odair Lelis Gonçalez, Evaldo Carlos Fonseca Pereira Junior, Rafael Galhardo Vaz, Marlon Antonio Pereira (IEAv), Gilson Inácio Wirth, Fernanda Gusmão de Lima Kastensmidt, Tiago Roberto Balen, Jimmy Tarrillo (UFRGS)
Paper 10- Single-Event-Induced Charge Sharing Effects in TMR with Different Levels of Granularity
Felipe Almeida, Fernanda Lima Kastensmidt, Samuel Pagliarini, Luis Entrena, Almudena Lindoso, Enrique San Millan, Eduardo Chielle, Lirida Naviner and Jean-François Naviner

Maiores informações em: http://werice2012.ieav.cta.br