Palestra com Gilson Wirth e Flavio Horowitz

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Publicado em: 19/06/2015

No dia 19 de junho ocorrerá as palestras “Charge trapping phenomena in MOSFETS: From Noise to Bias Temperature Instability” e “Tecnologias para a Sustentabilidade: da Casa-E às Superfícies Auto-Limpantes”. A primeira palestra começa às 13h e 30min (ocorrendo a outra logo após), na sala 104 do prédio de sala de aula do Instituto de Informática da UFRGS, prédio 43425 (73).

Palestra Prof. Gilson Wirth

Abstract:

MOSFET low-frequency noise is known to be dominated by charge capture and emission by defects (traps) close to the Si-SiO2 interface. It is also known to play a role in Bias Temperature Instability (BTI). A physics based modeling and simulation approach will be presented. It is based on the relevant microscopic quantities that play a role in both low-frequency noise (RTN) and BTI. The modeling approach is valid at both DC and large signal (AC) biasing, and may be applied to time domain (transient) and frequency domain (AC) analysis. At the beginning of the talk the basics mechanisms involved in charge trapping and de-trapping will be presented, including a critical discussion of key parameters such as trapping/de-trapping time constants and the amplitude of the fluctuations induced by single traps. Standard low-frequency noise models used today (e.g. BSIM) do not properly model noise behavior under large signal excitation, and often do not to properly model noise variability. The presented modeling approach is helpful in solving this issue. The role of charge trapping and de-trapping in BTI (Bias Temperature Instability) is also discussed and modeled. Mutual relation between the different reliability phenomena (low-frequency noise, BTI and random dopant fluctuations – RDF) is also studied. For instance, random dopant fluctuations (RDF) may exacerbate the impact of BTI and low-frequency noise on circuit performance. Moreover, low-frequency noise and BTI are emerging as potential yield hazards in the most advanced CMOS nodes, as it can for instance appear as a time dependent SNM limiter in SRAMs.

Short BIO:

Gilson I. Wirth received the B.S.E.E and M.Sc. degreesand 1994, respectively. In 1999 he received the Dr.-Ing. degree in Electrical Engineering from the University of Dortmund, Dortmund, Germany. He is currently a professor at the ElectricalUFRGS (since January 2007). From July 2002 to December 2006 he was professor andEstadual do Rio Grande do Sul (UERGS). He founded the research group in micro- and nano-electronics at UERGS. In July, August and December 2001 he was at Motorola,01/1093.3 (first phase of technology transfer) and 01/1628.9 (second phase of technology transfer). In February and March 2002 he was at the Corporateworking as guest researcher on low-frequency noise in deep submicron MOS devices. His research work is focused ontemperature instability (BTI), radiation effects, and design techniques to improve yield and reliability.

Palestra Prof. Flavio Horowitz

Tecnologias para a Sustentabilidade: da Casa-E às Superfícies Auto-Limpantes

Abstract:

Tendo como enfoque sua contribuição à Sustentabilidade e apontando suas conexões com a Microeletrônica, serão apresentados resultados recentes da pesquisa no Laboratório Laser&Óptica, envolvendo Co-Utilização do Infravermelho Solar para conforto térmico de edificações e Recobrimentos Auto-Limpantes sobre vidro ou polímeros transparentes (super-hidrofóbicos e anti-refletivos, aplicáveis a coletores solares), diamante micro-cristalino (eletro-óptica), aço carbonílico (super-hidrofóbicos e anti-corrosivos), cobre (super-hidrofóbicos e oleofóbicos) e silício texturizado (microfluídica, lab on a chip).

Short BIO:

Flavio Horowitz é Bacharelado em Física (1974) e Mestre em Física (1977) pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)-Brasil, Ph.D. in Optical Sciences (1983) pela University of Arizona de Tucson-USA e pós-doutorado (1993) na área de dispositivos ópticos pelo Imperial College de London-UK. No Instituto de Física da UFRGS, professor desde 1983, foi coordenador da Comissão de Pesquisa (2003-2004) e da Comissão de Extensão (2011-2014). Na UFRGS, coordenou a Incubadora Tecnológica Héstia (2009-2014), participou da Comissão de Pós-graduação em Microeletrônica (2005-2007, 2009-2011) e do Conselho do Centro de Nanociência e Nanotecnologia (2011-2013), é Professor Titular e atua como docente nos Programas de Pós-graduação em Física, Microeletrônica e Ciência dos Materiais. Ao nível nacional, participou do Conselho Deliberativo da Sociedade Brasileira de Vácuo (1988-1990) e da Comissão Brasileira de Óptica/Sociedade Brasileira de Física (1998-1999), representando-a na International Commission for Optics. Junto à Optical Society of America, é membro sênior e participa do Comitê do Programa da Conferência Optical Interference Coatings OIC/OSA (desde 1998, trianual). Sua produção inclui mais de uma centena de artigos completos, capítulos de livros e tecnologias desenvolvidas, organização de três dezenas de encontros científicos e qualificação de 21 pós-graduados (mestres, doutores e pós-doutorados). Pelo seu trabalho, em equipe, com recobrimentos micro-nanoestruturados, superhidrofóbicos e anti-refletivos, recebeu oprêmio Nanostructured Thin Films da SPIE – International Society for Optics and Photonics – em San Diego, EUA, 2012 e, no mes passado, pela CasaE-UFRGS, o prêmio Renewable Energy da EST 2015 – ENERGY, SCIENCE & TECHNOLOGY – International Conference and Exhibition, em Karlsruhe, Alemanha. Áreas de interesse atual incluem: recobrimentos ópticos (produção monitorada, processamento e caracterização), filmes compósitos/micro-nanoestruturados, superfícies (molhabilidade, super-hidrofobicidade) e suas aplicações (energia, fotônica, dispositivos)

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