Publicado em: 22/05/2015

Palestra com professor Daniel Baptista do Instituto de Física

No dia 22 de maio, sexta-feira o professor do Instituto de Física da UFRGS, Daniel Baptista, vai ministrar a palestra Dual “Beam Microscopy Applied to Nano- and Microscale Devices Characterization”. Serão apresentadas técnicas de caracterização 3D via microscopia em dispositivos eletrônicos. A palestra começa às 13h e 30 min, na sala 104 do prédio 43425 (73), do Instituto de Informática.

Abstract:

Nesta palestra, serão apresentadas técnicas de caracterização 3D via microscopia em dispositivos eletrônicos. Serão abordados aspectos fundamentais da técnica de tomografia por feixe-duplo aplicada à análise em micro e nanoescalas. Exemplos práticos de reconstrução 3D via software serão apresentados.

Short BIO:

Possui graduação (1997) e doutorado (2003) em Física pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul. Em 2004-2005 realizou estágio pós-doutoral no grupo “Electronic Devices and Materials (EDM)” na University of Cambridge, UK. Foi pesquisador do INMETRO (2008-2009), atuando no Lab. de Microscopia Eletrônica de Alta Resolução da Divisão de Materiais. Atualmente é Professor Adjunto do Instituto de Física da UFRGS. Tem experiência na área de síntese, processos e caracterização de nanomateriais (nanofios semicondutores, nanopartículas, nanotubos, grafeno) para dispositivos eletrônicos. Atua em temas tais como nanofabricação, nanolitografia, irradiação iônica, análises espectroscópicas, análise por feixe de íons, microscopia eletrônica de transmissão (HRTEM, STEM, EFTEM, EDX, EELS, Cs-correction) e varredura, microscopia de força atômica. Atua nos Programas de Pós-graduação em Microeletrônica (PPGMicro) e Física (PPGFis). É vice-Diretor do Centro de Microscopia Eletrônica da UFRGS. Membro Afiliado da Academia Brasileira de Ciências.