Publicado em: 10/04/2026
Primeira palestra do IEEE CASS RS Talks 2026
Evento traz especialista internacional para discutir desafios da corrupção silenciosa de dados e o uso de telemetria em sistemas de alta complexidade
A UFRGS sediará, no dia 14 de abril de 2026, às 13h30 (horário de Brasília), mais uma edição do IEEE CASS RS Talks, transmitida pelo canal www.youtube.com/cassriograndedosul.
O evento contará com a participação do Prof. Hans-Joachim Wunderlich, da University of Stuttgart (Alemanha), que apresentará a palestra “Hidden Faults, Visible Failures: Some Remarks on Silent Data Corruption, Telemetry, and Applications”.
Resumo:
Nos últimos anos, a corrupção silenciosa de dados (SDC, na sigla em inglês) tem recebido crescente atenção, e quase todos os participantes que operam Gigafábricas de IA (Inteligência Artificial) relataram um certo número de chips semicondutores computando resultados errôneos. Com o aumento da escalabilidade e da variabilidade, a visão clássica de testes de fabricação, cobertura de falhas e escapes de testes não se sustenta mais, visto que o teste agora é um processo indeterminístico. No âmbito da eletrônica automotiva, essas limitações dos testes de fabricação são amplamente conhecidas, e a Computação de Alto Desempenho (HPC, na sigla em inglês) e as Gigafábricas de IA estão acompanhando essa tendência. O Gerenciamento do Ciclo de Vida do Silício (SLM, na sigla em inglês) depende da coleta abrangente de todos os observáveis necessários por meio de telemetria. O termo telemetria denota não apenas a coleta de dados de sensores e monitores, mas também a avaliação, classificação e previsão do estado do sistema, cada vez mais por meio de IA embarcada. A palestra também abordará brevemente aplicações da telemetria além dos testes.
Sobre o palestrante:
Hans-Joachim Wunderlich é membro vitalício do IEEE e professor emérito da Universidade de Stuttgart, onde atuou como diretor do Instituto de Arquitetura de Computadores e Engenharia de Computadores. Foi editor associado de diversos periódicos internacionais e participou da organização de várias conferências sobre projeto, teste e tolerância a falhas de sistemas eletrônicos. Publicou 17 livros e capítulos de livros, além de mais de 330 artigos científicos revisados por pares em periódicos e conferências. Seus interesses de pesquisa incluem teste, confiabilidade, tolerância a falhas e automação de projeto de sistemas microeletrônicos.
Acompanhe ao vivo pelo YouTube e participe do diálogo sobre os desafios da confiabilidade em sistemas computacionais modernos!