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Publicado em: 10/01/2017

Prof. Ricardo Reis exemplifica inovação em livro

Pioneirismo propõe solução para efeitos da eletromigração em células lógicas de um circuito

capalivroelectromigrationO Professor do INF (Instituto de Informática) da UFRGS Ricardo Reis, juntamente com os pesquisadores Gracieli Posser (Pós-Doutoranda UFRGS) e Sachin S. Sapatnekar (Universidade de Minnesota/EUA), exemplifica inovação e eficácia na obra “Electromigration Inside Logic Cells – Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS”. Publicado no exterior pela editora Springer, o livro descreve novas metodologias para modelagem, análise e mitigação da eletromigração no interior de células lógicas de circuitos integrados em tecnologias NanoCMOS.

A equipe de autores é a primeira a analisar e propor uma solução para os efeitos de eletromigração dentro das células lógicas de um circuito. As técnicas de projeto físico desenvolvidas nesta proposta permitem aumentar o tempo de vida dos circuitos de forma expressiva através do posicionamento dos pinos de entrada e saída em regiões menos críticas no layout das células.

Os leitores de “Electromigration Inside Logic Cells – Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS” poderão aplicar a metodologia somente às células críticas no circuito, evitando, assim, impacto no atraso do circuito, área e desempenho, aumentando a vida útil do circuito sem perda em outras características.