O Professor do INF (Instituto de Informática) da UFRGS Ricardo Reis, juntamente com os pesquisadores Gracieli Posser (Pós-Doutoranda UFRGS) e Sachin S. Sapatnekar (Universidade de Minnesota/EUA), exemplifica inovação e eficácia na obra “Electromigration Inside Logic Cells – Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS”. Publicado no exterior pela editora Springer, o livro descreve novas metodologias para modelagem, análise e mitigação da eletromigração no interior de células lógicas de circuitos integrados em tecnologias NanoCMOS.
A equipe de autores é a primeira a analisar e propor uma solução para os efeitos de eletromigração dentro das células lógicas de um circuito. As técnicas de projeto físico desenvolvidas nesta proposta permitem aumentar o tempo de vida dos circuitos de forma expressiva através do posicionamento dos pinos de entrada e saída em regiões menos críticas no layout das células.
Os leitores de “Electromigration Inside Logic Cells – Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS” poderão aplicar a metodologia somente às células críticas no circuito, evitando, assim, impacto no atraso do circuito, área e desempenho, aumentando a vida útil do circuito sem perda em outras características.