“Power Consumption & Reliability in NanoCMOS” é o título da palestra convidada que o prof. Ricardo Augusto da Luz Reis ministrou na Conferência IEEE NANO 2011, realizada no dia 17 de agosto quarta-feira, em Portland, USA. Trata-se de uma das principais conferências internacional em nanotecnologias.
Mais informações: http://ieeenano2011.org/