Publicado em: 24/11/2020
SERESSA 2020
16th International School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications. Edição virtual do Brasil.
Entre os dias 01 a 04 de dezembro acontecerá o SERESSA 2020, um evento que combina comunidades acadêmicas, governamentais e industriais que trabalham na área de efeitos da radiação em sistemas embarcados.
O primeiro SERESSA foi organizado em Manaus no ano de 2005. Depois, deu a volta ao mundo, sendo organizado em Sevilha, Buenos Aires, Palm Beach, Takasaki, São José dos Campos, Toulouse, Ansan, Moscou, Bariloche, Puebla, Montreal, Munique e Nordwick. Neste ano, o evento comemora seus 15 anos em Porto Alegre, com uma edição totalmente virtual.
O público-alvo inclui pesquisadores iniciantes e experientes, engenheiros e alunos de pós-graduação que desejam aprimorar sua base de conhecimento neste campo em rápida evolução. Os tópicos cobertos pelo SERESSA incluem: ambiente de radiação, anomalias de espaçonaves, efeitos de evento único (SEE), efeitos de dose total (TID), efeitos de radiação em sistemas de energia, efeitos de radiação em células solares, endurecimento de arquitetura em circuitos analógicos e digitais e em memórias , endurecimento de software, efeitos em FPGAs, garantia de dureza, previsão de taxa, teste de radiação, teste de laser e experimentos de teste remoto.
Os participantes do SERESSA 2020 são convidados a apresentar suas principais linhas de pesquisa e resultados recentes durante as sessões de pôsteres. O objetivo da sessão é promover a interação entre diferentes grupos e estimular possíveis colaborações entre os participantes. Os alunos são incentivados a participar do Concurso para o melhor ‘Pôster do Aluno’ apresentando seus estudos recentes. Os participantes que enviaram um pôster terão uma inscrição gratuita. Quem submeteu um pôster receberá a notificação de aceitação no dia 25 de novembro. O envio da versão final deverá ser no dia 27.
Autores de ambas as modalidades (alunos-competição e geral) terão a oportunidade de apresentar suas contribuições por meio de uma palestra gravada de três minutos e um espaço em tempo real para perguntas e respostas.
Veja a programação com os palestrantes confirmados:
- Efeitos da radiação em células solares multijuncionais para aplicação espacial
José Ramón GONZÁLEZ, Agência Espacial Europeia, Holanda
- Efeitos de evento único
Stephen Buchner, Laboratório de Pesquisa Naval, Washington DC, EUA
- Efeitos VER em dispositivos VLSI: desafios e soluções
Luca Sterpone, Politécnico de Torino, Itália
- Métodos de projeto em nível de circuito para mitigar erros leves
Ricardo Reis, UFRGS, Brasil
Alexandra Zimpeck, UCPel, Brasil
- Métodos de teste VER
Pavel Chubunov, URSC-ISDE, Rússia
- Previsão de taxa de erro para circuitos programáveis: metodologia, ferramentas e casos estudados
Raoul Velazco, TIMA, França
- Ambiente de radiação do acelerador: ferramentas e abordagens de modelagem e monitoramento
Giuseppe Lerner, CERN, Suíça
- Instalações e estudos de caso brasileiros
Marcilei Guazzelli da Silveira, FEI, Brasil
Nilberto Heder Medina, USP, Brasil
Odair Lelis Gonçalez, IEAv, CTA, Brasil
Tiago Balen, UFRGS, Brasil
- Garantia de dureza
Stephen Buchner, Laboratório de Pesquisa Naval, Washington DC, EUA
- Diretrizes de garantia para sistemas de exploração de próxima geração
Jonathan Pellish, NASA, EUA
- Caracterizando Probabilidades de Falha FPGA para Sistemas Espaciais Críticos
Melanie Berg, Space R2 LLC, EUA
- Requisitos de teste de radiação para padrões de segurança funcional
Sung Chung, QRT, Coreia do Sul
- COTS no espaço: componentes comerciais qualificados para o espaço
Jaime Estela, Spectrum Aerospace Technologies, Munique, Alemanha
- Endurecimento do sistema e aplicações espaciais reais
Michel Pignol, CNES, França
- Injeção de falhas e metodologias de verificação formal
LUIS ALFONSO ENTRENA ARRONTES, Universidad Carlos III de Madrid
- Efeitos da radiação ionizante em sensores de imagem CMOS
José Lipovetzky, Argentina
- Analisando a confiabilidade das redes neurais em dispositivos SoC programáveis
Fernanda Lima Kastensmidt, UFRGS, Brasil
- Analisando dados extraídos de testes de radiação em SRAMs avançados
Juan A. Clemente, Universidad Complutense de Madrid, Espanha
- Endurecimento por radiação por projeto de circuitos integrados CMOS.
Yann Deval, IMS, Bordeaux, França
- Roteamento em redes tolerantes a atrasos com tendência a falhas
Juan A. Fraire, Universidad Nacional de Córdoba, Argentina e Universität Des Saarlandes, Alemanha
- Programa NanosatC-Br e Desenvolvimento de Circuitos Integrados Endurecidos por Radiação para Aplicações de Satélites
João Baptista Martins, UFSM, Brasil
Nelson Schuch, INPE-SM, Brasil
- Efeitos da radiação e técnicas de mitigação na GPU
Paolo Rech, UFRGS, Brasil
José Rodrigo Azambuja, UFRGS, Brasil
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